分布跳变识别器稳定性不足
在设计上,分布跳变识别器旨在捕捉半导体制造过程中的严格概念漂移(如耗材更换、化学液质变)。然而在实现过程中遇到了多重挑战:
a. 初始方案(融合误差判定)的失败:
最初以双流融合预测误差作为跳变判定依据,但由于融合误差受多种因素干扰(噪声、渐进退化、在线学习滞后等),对短期波动极为敏感,日志分析显示判定结果极不稳定,误报率高,无法在实际中使用。因此主动将跳变识别器与双流编码器进行解耦,转为独立模块设计。
b. Usage 特征的误导性:
对 Usage 特征跳变与真实 MRR 分布跳变进行比对分析(见图4)后发现,两者并非强相关:仅有少数几个时间戳的 Usage 特征跳变与 MRR 分布跳变同步,其余 Usage 特征跳变与 MRR 分布跳变相互独立。直接采用 Usage 特征跳变作为判断依据将引入大量误检,故转而采用独立的影子 MLP 方案。
图4 Usage 特征跳变时间戳与 MRR 分布跳变对比
c. 影子 MLP 方案的局限性:
当前影子 MLP 方案存在两个显著问题:其一,连续误判——一旦触发跳变判定,后续往往出现连续多步被误判为跳变,推测是累积似然分数 $S_t$ 的重置逻辑存在缺陷,确诊后未能及时回归稳态基准;其二,漏检率过高——除连续误判外,真实跳变点的检出率偏低,初步判断是确诊阈值的设置未能适应数据的实际噪声分布。这两个问题相互制约,难以在同一阈值设置下同时满足低误报率与高检出率的要求。